半导体高低温测试液冷设备
型号：
HY
半导体高低温测试液冷设备是一款专为功率半导体模块（如IGBT、MOSFET、SiC器件等）在热管理测试、耐高温评估、冷却效率验证等应用场景中设计的控温循环系统。设备采用工业级高精度控温单元，结合闭式液冷循环回路，实现冷却液温度、流量、压力等参数的精准控制和实时调节，满足各种复杂工况下的测试需求。该系统适用于新能源汽车电控器、充电模块、变频器、储能系统、轨道交通牵引系统等半导体应用领域，为器件热阻评估、热循环加速老化、电热耦合测试提供稳定的测试环境。
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产品特点
宽温区精准控温
控温范围：-40℃ ~ +100℃，支持高温与低温双向冲击；控温精度高达 ±0.5℃，适配对热稳定性要求极高的半导体测试。
稳定可靠的液冷系统
高效率循环泵与流量调节系统，支持恒压恒流运行；兼容多种冷却介质：纯水、乙二醇混合液、专用冷却液等。
多参数精准采集和远程控制
实时监控温度、流量、压力、液位、电导率等关键参数。可设置复杂温度/流量曲线，实现自动化运行；提供数据记录、曲线显示、故障报警等功能；设备支持远程通讯功能。
多重防护
具备过温保护、缺液报警、过压排放、漏液检测、急停开关等多重防护；适合高精密器件连续测试与极端工况运行。
产品参数
| 型号 | HY02-F | HY05-F | HY05-DF/S | HY10-DF/S | HY25-DS | HY30-DS | |||||||||||||||||||||||||||
| 温度范围 | 5℃~85℃ | 5℃~85℃ | -30℃~85℃ | -40℃~100℃ | -40℃~100℃ | -40℃~100℃ | |||||||||||||||||||||||||||
| 流量范围 | 1~20L | 1~20L | 1~20L | 1~30L | 1~30L | 1~30L | |||||||||||||||||||||||||||
| 压力范围 |
0~300KPa |
0~300KPa |
0~300KPa |
0~300KPa |
0~300KPa |
0~300KPa |
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| 温区数量 | 单温单路 | 单温单路 | 单温单路 | 单温单路 | 单温单路 | 单温单路 | |||||||||||||||||||||||||||
| 冷却方式 | 风冷 | 风冷 | 风冷/水冷 | 风冷/水冷 | 水冷 | 水冷 | |||||||||||||||||||||||||||
| · 设备的尺寸、制冷/加热功率、流量、温度、压力等技术要求均可定制，详情请咨询在线客服或来电咨询！ | |||||||||||||||||||||||||||||||||
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