大型移动式冷热冲击试验箱

适用于大型光电器件、半导体设备部件及电子产品温度冲击测试，支持移动式结构和非标定制。

两槽式高低温冲击试验箱

适用于芯片、封装器件、COB及光电器件温度冲击测试，用于验证产品耐温度骤变性能。

三槽式高低温冲击试验箱

适用于芯片、半导体封装、光电器件及电子元器件冷热冲击测试，满足可靠性验证需求。