两槽式高低温冲击试验箱
型号: BTS2
半导体两槽式高低温冲击试验箱适用于芯片、封装器件、COB及光电器件温度冲击测试,用于验证产品耐温度骤变性能。
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产品特点
温度范围
温度范围
提供广泛的温度范围,通常范围为-65°C至+150°C,有特殊需求的话甚至可以定制更广泛的温度范围
精准控制
精准控制
能够精确地控制试验箱内的温度等,让测试数据更为准确
数据记录
数据记录
配备数据记录和监控系统,可以实时记录和监测试验过程中的温度及其他相关参数等,并生成测试报告
安全性能
安全性能
具备安全保护功能,如超温保护、过压保护、电气保护等,确保试验过程的安全性
产品参数
型号 BTS2-2520 BTS2-4500 BTS2-6000
内箱尺寸 W1400*D1500*H1200mm W2200*D1200*H1500mm W2800*D1200*H1800mm
外箱尺寸 W4170*D2435*H2445mm W5100*D3200*H2550mm W5700*D3200*H3510mm
温度范围 B型:-40℃~150℃;C型:-55℃~150℃;D型:-65℃~150℃
温度波动度 <±0.5℃
温度偏差 <±2℃
温度均匀度 <±2℃
预冷箱温度 -10~75℃
预热箱温度 +50~+200℃
预冷箱降温速率 2℃/min
预热箱升温速率 5℃/min
温度转换时间 <5s
温度恢复时间 <5min
 · 设备的尺寸、温度的参数均可定制,详情请咨询在线客服或来电咨询
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