老化测试系统
型号: BTGW
适用于各类FPD、CMOS、IC与光电相关产品及其他产品、零部件和材料进行高温或其他恶劣环境进行性能可靠性试验;特别适合FPD(STN-LCD、TFT-LCD、COLOR、FILITER、TOUCH PANEL、OLED、PDP)。能帮助用户快速检测产品情况,并能在解决问题提供有效方向,充分提高生产效率和产品质量,可提供整套系统整合。
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产品特点
温度范围
温度范围
提供广泛的温度范围,通常范围为TR+5°C至+80°C,有特殊需求的话甚至可以定制更广泛的温度范围
精准控制
精准控制
能够精确地控制试验箱内的温度等,让测试数据更为准确
数据记录
数据记录
配备数据记录和监控系统,可以实时记录和监测试验过程中的温度及其他相关参数等,并生成测试报告
安全性能
安全性能
具备安全保护功能,如超温保护、过压保护、电气保护等,确保试验过程的安全性
产品参数
内箱尺寸 W5000*D2700*H1200mm(根据用户需求设计)
外箱尺寸 W5800*D3400*H2500mm
温度范围 RT+5℃~80℃
控制精度 ≤±0.1℃
温变速率 1~3℃/min(全程平均)
温度偏差 ≤±2℃
工作流程 工上料→放入样品架→插线(信号线)→给电→Aging→断电→下料
电源模块

提供LVDS、VBYONE、MIPI、EDP、RGB多种信号

电源规格:电源ON/OFF独立控制,两路独立的VDD输出,VDD电压自动补偿

电源保护OCP/OVP/UCP/UVP设定

         · 设备的尺寸、温度范围等参数均可定制,详情请咨询在线客服或来电咨询!
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