COB老化测试系统
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COB老化测试系统适用于各类光电产品与电工电子产品及其他产品、零部件和材料的高温恒定环境模拟可靠性试验
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产品特点
温度范围
温度范围
提供广泛的温度范围,通常范围为RT+10°C至+120°C,有特殊需求的话甚至可以定制更广泛的温度范围
精准控制
精准控制
能够精确地控制试验箱内的温度等,让测试数据更为准确
数据记录
数据记录
配备数据记录和监控系统,可以实时记录和监测试验过程中的温度及其他相关参数等,并生成测试报告
安全性能
安全性能
具备安全保护功能,如超温保护、过压保护、电气保护等,确保试验过程的安全性
产品参数
内箱尺寸 W950*D600*H600mm(根据用户需求设计) 外箱尺寸 W1800*D1900*H1050mm
温度范围 RT+10℃~120℃ 温度控制方式 两个腔体独立运行,支持不同温度设定
供电电压范围 3V~3.6V可调(可按要求定制) 模块母口供电电流 ≥4000mA,并需要提供过流保护功能
工作流程 工上料→放入样品架→插线(信号线)→给电→Aging→断电→下料   通信接口 LAN,RJ45/RS232/GPIB
老化板模块 可以通过更换托架支持不同VCSEL模块
老化和测试使用相同托架,不需要反复装夹DUT
监控能力 能实时监控老化模块产品的SN,DDM_TX,DDM_RX,LCC,IBIAS,温度,电压等参数
         · 设备的尺寸、温度等参数均可定制
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