COB BI测试老化试验箱

贝尔 COB BI测试老化试验箱，专为COB（Chip on Board，板上芯片）封装及BI（Backlight Inverter，背光逆变器）等电子元件的高温老化测试设计，遵循ISO 9001质量管理体系及GB/T 2423、IEC 60068等环境试验标准。 设备通过模拟长期高温工况，验证元件热稳定性、材料耐受性及电气性能可靠性，适用于研发验证、量产筛选及质量抽检全流程。

精密高温老化箱

适用于各类光电产品与电工电子产品及其他产品、零部件和材料的高温恒定环境模拟可靠性试验

COB老化测试系统

适用于各类光电产品与电工电子产品及其他产品、零部件和材料的高温恒定环境模拟可靠性试验

老化测试系统

采用先进的测试技术和自动化控制手段，能够模拟产品在实际工作环境中的长时间工作状态，有效地检测产品的性能稳定性和寿命。