光电半导体芯片解决方案

方案特点

可编程控制

多功能设计

高精度控制系统

坚固的结构设计

安全保护措施

推荐产品

老化测试系统

老化测试系统采用先进的测试技术和自动化控制手段，能够模拟产品在实际工作环境中的长时间工作状态，有效地检测产品的性能稳定性和寿命。

精密高温老化箱

精密高温老化箱适用于各类光电产品与电工电子产品及其他产品、零部件和材料的高温恒定环境模拟可靠性试验

三箱式冷热冲击试验机

三箱式冷热冲击试验机由三个独立的箱体组成，分别用于模拟高温、低温和常温环境。通过先进的控制系统和制冷/加热技术，这三个箱体能够在短时间内实现温度的快速切换，从而对光电半导体芯片等产品进行冷热冲击测试。这种设备能够模拟芯片在实际工作环境中可能遇到的各种极端温度条件，从而全面评估其性能和可靠性。

两箱式冷热冲击试验机

两箱式冷热冲击试验机由两个独立的箱体组成，分别用于模拟高温和低温环境。通过先进的控制系统和制冷/加热技术，这两个箱体能够在短时间内实现温度的快速切换，从而对光电半导体芯片等产品进行冷热冲击测试。这种设备能够模拟芯片在实际工作环境中可能遇到的各种极端温度条件，全面评估其性能和可靠性。

温湿度振动三综合试验箱

温湿度振动三综合试验箱通过先进的控制系统和传感器技术，实现对箱内温度、湿度和振动的精确控制。用户可以根据需要设定不同的测试条件，如温湿度范围、振动频率等，模拟芯片等产品在实际使用过程中可能遇到的各种环境条件。通过这种方式，研究人员可以对芯片等产品的性能进行全面评估，发现潜在的问题，提出改进措施。

步入式恒温恒湿试验室

贝尔步入式恒温恒湿试验室，支持-60℃～+120℃及20%-98%RH精准控制，内部容积5-80m³可定制。符合SEMI S2/S8及JEDEC标准，适用于晶圆存储、封装组件批量老化、大型设备温湿度循环测试等场景，配备防静电涂层、智能空气循环系统及远程监控功能，确保高负载下温场均匀度≤2.0℃。支持非标尺寸与多舱联动方案，满足严苛生产验证需求。

快速温度变化试验箱

快速温变变化试验箱，（又被称为快速温变环境试验箱、快速升降温测试箱、温度快速变化试验箱等），通过控制加热和冷却装置，能够在短时间内使试件经历快速的温度变化。试件被置于试验箱内，然后通过控制箱内的制冷剂和加热元件，可以快速地将试件的温度升高或降低到所需的温度。温度变化速率通常在5℃/min至25℃/min之间，这个速率可以根据具体的测试要求进行精确调整。

老化测试系统

精密高温老化箱

三箱式冷热冲击试验机

两箱式冷热冲击试验机

温湿度振动三综合试验箱

步入式恒温恒湿试验室

快速温度变化试验箱

管道送风系统

上出下回

水平送风

天花板送风

客户案例

某光电公司环境检测设备案例

是国内专业致力于光、电连接器技术研发、生产、销售，并全面提供整套连接器应用解决方案的知名企业。采购了一批包含高低温湿热试验箱、恒温试验箱等环境检测设备