高低温低气压试验设备
型号: BTHQ
高低温低气压试验设备结合了高低温试验和低气压试验的功能,为半导体芯片等产品提供一个综合的极端环境模拟平台。该设备通过先进的温度控制系统和气压调节系统,实现对箱体内部温度和气压的精确控制。同时,设备还配备有高精度的温度传感器和气压传感器,实时监测和记录测试过程中的环境参数变化。通过这些系统的协同工作,芯片高低温低气压试验设备能够为芯片提供一个稳定且可重复的极端环境测试条件。
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产品特点
温度范围
温度范围
提供广泛的温度范围,通常范围为-70°C至+150°C,有特殊需求的话甚至可以定制更广泛的温度范围
精准控制
精准控制
能够精确地控制试验箱内的温度和气压等,让测试数据更为准确
数据记录
数据记录
配备数据记录和监控系统,可以实时记录和监测试验过程中的温度、气压及其他相关参数等,并生成测试报告
安全性能
安全性能
具备安全保护功能,如超温保护、过压保护、电气保护等,确保试验过程的安全性
产品参数
型号 BTHQ-100 BTHQ-225 BTHQ-500 BTHQ-800 BTHQ-1000
内箱尺寸 W450*D450*H500mm W600*D500*H750mm W800*D700*H900mm W1000*D800*H1000mm W1000*D1000*H1000mm
外箱尺寸 W1150*D1050*H1750mm W1100*D1200*H1900mm W1450*D1450*H2100mm W1550*D1500*H2200mm W1520*D1720*H2280mm
温度波动度

±0.5℃(常压,空载)

温度偏差 <±2℃(常压,空载)
温度均匀度 <±2℃(常压,空载)
降温速率 平均1℃/min(非线性空载)
气压等级 101KPa~0.5KPa
降压时间 101KPa~1.0KPa<30min(箱内干燥时)
压力偏差 常压~40KP:±1.8KPa;  40KP~4KP:±4.5%KPa;   4KP~0.5KP:±0.1KPa
升压恢复速率

≤10KPa/min

温度范围 B型:-20~150℃;C型:-40~150℃;D型:-70~150℃
           · 设备的尺寸、温度、气压等参数均可定制

 

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