GDBELL
led高低温试验箱
BTT

led高低温试验箱

通过模拟高温和低温环境,对LED产品进行加速老化测试。试验箱内部设有加热和制冷系统,可以在短时间内将箱内温度快速升高或降低到所需水平。

 · 温度范围:-70℃~150℃

 · 冷却方式:风冷

 · 控制方式:触摸屏+PLC

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高低温交变湿热试验设备
BTH

高低温交变湿热试验设备

通过模拟复杂的环境条件,包括高低温度交变和湿度变化,对芯片进行全面的性能测试和可靠性评估。

 · 温度范围:RT+10℃~250℃

 · 温度波动度≤±0.5℃

 · 内箱材质:SUS304不锈钢

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高低温低气压试验设备
BTHQ

高低温低气压试验设备

结合了高低温试验和低气压试验的功能,为半导体芯片等产品提供一个综合的极端环境模拟平台。

 · 温度范围:-70~150℃

 · 气压等级:101KPa~0.5KPa

 · 升压恢复速率:≤10KPa/min 

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可程式高低温试验设备
BTT

可程式高低温试验设备

采用先进的温度控制系统和精确的温度传感器,为芯片测试提供一个稳定且可重复的温度环境。

 · 温度范围:-70℃~+150℃

 · 内箱材质:SUS304#镜面不锈钢

 · 冷却方式:风冷/水冷

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半导体双层高低温试验设备
BTL-D2

半导体双层高低温试验设备

设备通过精确的温度控制系统和先进的加热、制冷技术,实现对箱体内部温度的精确控制和快速升降温。

 · 温度范围:-60℃~+150℃

 · 内箱材质:SUS304#镜面不锈钢

 · 冷却方式:风冷/水冷

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大型快速温度变化湿热试验设备
BTKS5

大型快速温度变化湿热试验设备

采用高品质的材料和密封技术,确保测试环境的稳定性和均匀性。温度控制系统能够快速实现温度的升降和精确控制,湿度调节系统则能够精确调节测试箱体内的湿度水平。

 · 升温速率:≥5℃

 · 湿度范围:20%RH~98%RH

 · 冷却方式:风冷/水冷

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恒温恒湿箱
BTH

恒温恒湿箱

恒温恒湿箱具备高精度的温湿度控制能力,能够实现对试验箱内部温湿度的精确控制和稳定维持。

 · 温度范围:-70℃~150℃

 · 湿度范围:20%RH~98%RH

 · 内箱材质:SUS304不锈钢

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快速温度变化试验箱
BTKS

快速温度变化试验箱

采用先进的加热和制冷技术,能够在短时间内实现温度的快速切换。通过精确控制系统和传感器,该设备能够模拟芯片在实际使用过程中可能遇到的各种极端温度条件,对芯片进行严苛的测试。

 · 温度范围:-70℃~150℃

 · 温度偏差≤±2.0℃

 · 冷却方式:水冷

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大型步入式恒温恒湿室
BTHW

大型步入式恒温恒湿室

采用高品质的材料和先进的制造工艺,具有良好的防火、防爆等安全性能。同时,设备还配备多重安全保护功能,如过热保护、过流保护等,确保测试过程的安全可靠。

 · 温度范围:-60℃~120℃

 · 湿度范围:20%RH~98%RH

 · 冷却方式:水冷

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温湿度振动三综合试验箱
BTHZ

温湿度振动三综合试验箱

通过先进的控制系统和传感器技术,实现对箱内温度、湿度和振动的精确控制。用户可以根据需要设定不同的测试条件,如温湿度范围、振动频率等,模拟芯片等产品在实际使用过程中可能遇到的各种环境条件。

 · 温度范围:-70℃~150℃

 · 湿度范围:20%RH~98%RH

 · 设备与台面配合方式:垂直/水平

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两箱式冷热冲击试验机
BTS2

两箱式冷热冲击试验机

由两个独立的箱体组成,分别用于模拟高温和低温环境。通过先进的控制系统和制冷/加热技术,这两个箱体能够在短时间内实现温度的快速切换,从而对光电半导体芯片等产品进行冷热冲击测试。

 · 温度范围:-65℃~150℃

 · 预冷箱温度:-10~75℃

 · 预热箱温度:+50~+200℃

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三箱式冷热冲击试验机
BTS

三箱式冷热冲击试验机

由三个独立的箱体组成,分别用于模拟高温、低温和常温环境。通过先进的控制系统和制冷/加热技术,这三个箱体能够在短时间内实现温度的快速切换,从而对光电半导体芯片等产品进行冷热冲击测试。

 · 温度范围:-65℃~150℃

 · 预冷箱温度:-10~80℃

 · 预热箱温度:+50~+220℃

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