GDBELL
BTS
三箱式冷热冲击箱
由三个独立的箱体组成,分别用于模拟高温、低温和常温环境。通过先进的控制系统和制冷/加热技术,这三个箱体能够在短时间内实现温度的快速切换,从而对光电半导体芯片等产品进行冷热冲击测试。
· 温度范围:-65℃~150℃
· 预冷箱温度:-10~80℃
· 预热箱温度:+50~+220℃
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BTS2
两箱式冷热冲击箱
采用先进的温度控制系统,实现高精度、快速升降温,确保测试过程中温度的准确性和稳定性。
· 温度范围:-70~150℃
· 气压等级:101KPa~0.5KPa
· 升压恢复速率:≤10KPa/min
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BTGW-14.4m³
高温老化房
通过长时间的高温老化测试,模拟产品在实际工作过程中可能遇到的高温环境,从而更准确地评估其性能和寿命。
· 温度范围:常温+10℃~+100℃
· 温度偏差:≤±2.0℃
· 温度波动度:≤±0.5℃
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BTG
高温老化试验箱
主要是通过加热元件提高试验箱内的温度,同时配合精确的温度控制系统,使箱内温度保持在设定的范围内。
· 温度范围:RT+10℃~250℃
· 温度波动度:≤±0.5℃
· 内箱材质:SUS304不锈钢
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